Аналіз елементного складу плівок Cu2ZnSnSe4 методами PIXE та μ-PIXE

Автори А.С. Опанасюк1 , П.В. Коваль1 , Д.В. Магілін2, А.А. Пономарев2, Х. Чеонг3
Приналежність

1 Сумський державний університет, вул. Римського-Корсакова, 2, 40007 Суми, Україна

2 Інститут прикладної фізики НАН України, вул. Петропавлівська 58, 40000 Суми, Україна

3 Соганський університет, Шінсу-Донг 1, Мапу-Гу 121-742 Сеул, Корея

Е-mail
Випуск Том 6, Рік 2014, Номер 2
Дати Одержано 23.03.2014, опубліковано online - 20.06.2014
Посилання А.С. Опанасюк1, П.В. Коваль та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 6 No 2, 02019 (2014)
DOI
PACS Number(s) 68.55.Nq
Ключові слова Елементний склад (9) , Плівки Cu2ZnSnSe4, Методи PIXE, μ-PIXE.
Анотація Методом рентгенівського характеристичного випромінювання індукованого сфокусованим протонним пучком проведено дослідження розподілу компонентів сполуки за площею плівок Cu2ZnSnSe4 (-PІXE), а також визначено їх елементний склад (PІXE). Для реалізації методу використаний ядерний скануючий мікрозонд з енергією пучка протонів 1,5 MеВ і поперечним розміром зонда 4  4 мкм2 . Плівки чотирьохкомпонентної сполуки отримані при різних фізико-технологічних режимах осадження співвипаровуванням компонентів з використанням електронно-променевої гармати. Як підкладки використано скло з підшаром молібдену нагріте до температури 400 С. У результаті досліджень встановлено, що розподіл елементів по площі конденсатів є однорідним, а їх склад визначається фізико-технологічними умовами отримання.

Перелік посилань