| Автори | С.О. Рудченко , А.Т. Пугачов , В.Є. Пуха , В.В. Старіков |
| Афіліація | Національний технічний університет «ХПІ», вул. Фрунзе 21, 61002 Харків, Україна |
| Е-mail | sveta_rud87@mail.ru |
| Випуск | Том 5, Рік 2013, Номер 4 |
| Дати | Одержано 19.06.2013, опубліковано online - 31.01.2014 |
| Цитування | С.О. Рудченко, А.Т. Пугачов, В.Є. Пуха, В.В. Старіков, Ж. Нано- електрон. фіз. 5 № 4, 04073 (2013) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 61.48. – c, 62.20. – x |
| Ключові слова | Фуллерен (2) , Фуллерит, Мікродифракція (2) , Нанотвердість (4) , Модуль пружності (12) . |
| Анотація | Конденсацією молекул С60 на підкладках KCl, LiF та Si були отримані плівки фуллериту з текстурою (110). Методом наноіндентування при безперервному скануванні по глибині визначені модуль пружності (Е 14,1 ГПа) і твердість(Н = 0,42 ГПа) плівки фуллериту. Проведено порівняння отриманих результатів з теоретичними оцінками пружних модулів та даними попередніх робіт з вимірювань пружних характеристик та твердості кристалічногоC60. |
|
Перелік посилань |