Results (4):

Назва Gate Leakage Current Reduction With Advancement of Graded Barrier AlGaN/GaN HEMT
Автори Palash Das, Dhrubes Biswas
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 5
Сторінки 0972 - 0978
Назва Prospects of III-Vs for Logic Applications
Автори U.P. Gomes, Y.K. Yadav, S. Chowdhury,  K. Ranjan, S. Rathi, D. Biswas
Випуск Том 4, Рік 2012, Номер 2
Сторінки 02009-1 - 02009-5
Назва Features of Formation of Ohmic Contacts and Gate on Epitaxial Heterostructure of AlGaN / GaN High Electron Mobility Transistor
Автори I.A. Rogachev, A.V. Knyazkov, O.I. Meshkov, A.S. Kurochka
Випуск Том 8, Рік 2016, Номер 2
Сторінки 02044-1 - 02044-3
Назва Вплив діелектрика ZrO2 на характеристики постійного струму і пригнічення витоку в транзисторі DH MOS-HEMT на основі AlGaN/InGaN/GaN
Автори V. Sandeep, J. Charles Pravin
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 4
Сторінки 04007-1 - 04007-5