Особливості поширення світла в електроізоляційних матеріалах електронної техніки під час лазерної обробки
| Автори | С.Д. Точилін, С.П. Лущін, Д.С. Точилін |
| Афіліація | Запорізький національний технічний університет, вул. Жуковського, 64, 69063, Запоріжжя, Україна |
| Е-mail | tochno@zsu.zp.ua |
| Випуск | Том 1, Рік 2009, Номер 2 |
| Дати | Одержано 02.02.2009, у відредагованій формі – 14.03.2009 |
| Цитування | С.Д. Точилін, С.П. Лущін, Д.С. Точилін, Ж. нано- електрон. фіз. 1 №2, 28 (2009) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 42.50.Wk, 42.25.Bs, 42.62.Cf |
| Ключові слова | Апроксимація, Випромінювання (71) , Лазер (60) , Перфорація, Поглинання (44) , Склотекстоліт. |
| Анотація |
Проведено дослідження поширення світла в електроізоляційних матеріалах електронної техніки при випарному режимі лазерного впливу. У результаті аналізу експериментальних даних визначена швидкість формування наскрізних отворів та встановлені тимчасові особливості коефіцієнта поглинання в досліджених зразках. |
|
Перелік посилань |
Інші статті цього номера
1) Магнітодеформаційний ефект у тонких металевих плівках [007-010]2) Тонкоплівкові гетеропереходи ZnTe/CdTe [011-020]
3) Структура та магніторезистивні властивості тришарових плівкових систем CoNi/Ag(Cu)/FeNi [021-027]
4) Автоматизований комплекс досліджень терморезистивних властивостей наноструктурованих плівкових систем [034-041]
5) Хімічне поверхневе осадження тонких плівок CdS з водного розчину солі CdI2 [042-048]
6) Дослідження матричних ефектів при визначенні домішок у цирконії методом атомно-абсорбційної спектрометрії [049-054]
7) Розрядна система з осциляцією електронів в емісійній області для джерела позитивних іонів [055-059]
8) Фільтр просторових гармонік з додатковими полюсами запирання на частотній характеристиці [060-068]
9) Дисперсія координат локалізації частинок у випадковому пилкоподібному потенціалі [069-075]
10) Чисельне дослідження опромінення пластинки графену пучком атомів вуглецю [076-088]
11) Дифузiйні процеси та iнтерфейсне розсiяння електронів у плiвкових системах на основi Cu/Fe i Fe/Cr [089-100]
