Автори | M.Z. Merad1, L. Fellah2, A. Diha3 |
Афіліація |
1Exploitation et Valorisation des Ressources Naturelles en Zones Arides, 30000 Ouargla, Algeria 2Faculty of Hydrocarbons and Renewable Energies and Earth and Universe Sciences, University of Kasdi Merbah, 30000 Ouargla, Algeria 3Department of Mechanical Engineering, University Larbi Tébessi, Tébessa 12000, Algeria |
Е-mail | fellahcene@yahoo.fr |
Випуск | Том 15, Рік 2023, Номер 5 |
Дати | Одержано 21 серпня 2023; у відредагованій формі 14 жовтня 2023; опубліковано online 30 жовтня 2023 |
Цитування | M.Z. Merad, L. Fellah, A. Diha, Ж. нано- електрон. фіз. 15 № 5, 05013 (2023) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.15(5).05013 |
PACS Number(s) | 61.43.Dq, 68.55. Ln,68.55.jd |
Ключові слова | Розпилювальний піроліз (4) , NiO Легований Ba, Тонкі плівки (66) , Заборонена зона (19) , Енергія Урбаха, Розмір зерна (6) . |
Анотація |
У статті повідомляється про вплив легування барієм на властивості тонкихі плівок NiO. Нелеговані та леговані плівки були нанесені на скляну підкладку при 450 °C за допомогою техніки пневматичного розпилювального піролізу (PSPT) з різними концентраціями барію (0 – 8 ат.%). Рентгенівські дифракційні картини показують полікристалічну природу плівок із переважною орієнтацією (111). Жодних інших кластерів і домішкових фаз металевого барію не спостерігалося при легуванні Ba. Розмір кристалів осаджених тонких плівок розраховували за формулою Дебая-Шеррера для двох орієнтацій (111) і (200), і на фотографіях SEM ми знайшли значення в діапазоні від 11,95 до 39,06 нм в обох випадках. У видимій області оптичне пропускання тонких плівок NiO, легованих Ba, впало на 46 % порівняно з нелегованими тонкими плівками NiO (79 %). Було виявлено, що ширина забороненої зони зменшується в діапазоні 3,742 – 3,503 еВ з легуванням Ba. Енергія безладу Урбаха явно зростає від 262,98 до 356,64 меВ при переході від нелегованого тонкого шару до тонкого шару, легованого при 2 ат. %, потім зменшується до мінімуму 303,14 меВ для легування барієм 8 ат. %, дозволяючи атомам знайти хороше місце, тобто тонкі плівки стають однорідними та сильно кристалізованими. Шорсткість була розрахована за допомогою аналізу SEM зображень. Його значення коливалися в межах 23,26 – 39,06 нм. |
Перелік цитувань |