Результаты (2):

Заголовок Investigating the Temperature Effects on ZnO, TiO2, WO3 and HfO2 Based Resistive Random Access Memory (RRAM) Devices
Автор(ы) T.D. Dongale, K.V. Khot, S.V. Mohite, S.S. Khandagale, S.S. Shinde, V.L. Patil, S.A. Vanalkar, A.V. Moholkar, K.Y. Rajpure, P.N. Bhosale, P.S. Patil, P.K. Gaikwad, R.K. Kamat
Выпуск Том 8, Год 2016, Номер 4
Страницы 04030-1 - 04030-4
Заголовок Effect of Conductive Filament Temperature on ZrO2 based Resistive Random Access Memory Devices
Автор(ы) Pramod J. Patil, Namita A. Ahir, Suhas Yadav, Chetan C. Revadekar, Kishorkumar V. Khot, Rajanish K. Kamat, Tukaram D. Dongale, Deok-kee Kim
Выпуск Том 12, Год 2020, Номер 2
Страницы 02008-1 - 02008-4