Structure and Surface Analysis of SHI Irradiated Thin Films of Cadmium Telluride
| Автори | Neelam Pahwa1,3, A.D. Yadav1, S.K. Dubey1, A.P. Patel1, Arvind Singh2, D.C. Kothari1,2 |
| Приналежність | 1 Department of Physics, University of Mumbai, Vidyanagari Campus, Santacruz (E), Mumbai 400098, India 2 National Centre for Nano-Materials and Nanotechnology, University of Mumbai, Mumbai 400098, India 3 Department of Electronics, Zakir Husain Delhi College, University of Delhi, Delhi-110001, India |
| Е-mail | neelam.zhc@gmail.com |
| Випуск | Том 4, Рік 2012, Номер 3 |
| Дати | Одержано 04.03.2012, у відредагованій формі - 14.04.2012, опубліковано online - 30.10.2012 |
| Посилання | Neelam Pahwa, A.D. Yadav, S.K. Dubey, et al., J. Nano- Electron. Phys. 4 No 3, 03003 (2012) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 1.05cf, 61.80Cb, 61.80Jh, 68.35bj, 68.35ct, 68.35Fx, 68.35Gy, 68.37Ps, 68.47Fg, 68.55ag, 68.55J - |
| Ключові слова | CdTe (15) , Thermal Evaporation (10) , Swift Heavy Ion Irradiation (3) , XRD (90) , AFM (18) , PSD. |
| Анотація |
Cadmium Telluride (CdTe) thin films grown by thermal evaporation on quartz substrates were irradiated with swift (100 MeV) Ni + 4 ions at various fluences in the range 1011 – 1013 cm – 2. The modification in structure and surface morphology has been analyzed as a function of fluence using XRD and AFM techniques. The XRD showed a reduction in peak intensity and grain size with increasing fluence. The AFM micrographs of irradiated thin films show small spherical nanostructures. In addition to direct imaging, AFM profile data enable to derive the Power Spectral Density (PSD) of the surface roughness. In the present work PSD spectra computed from AFM data were used for studying the surface morphology of films. The PSD curves were fitted with an appropriate analytic function and characteristic parameters were deduced and discussed in order to compare film morphology with varying fluence levels. |
|
Перелік посилань |
Інші статті цього номера
1) Моделювання сенсора вібрацій на основі біморфної структури [02033-1-02033-7]2) Chemical, Structural and Optical Properties of ē-Beam Evaporated Tungsten Diselenide Polycrystalline Thin Film [03001-1-03001-3]
3) Sol-Gel Deposited Porogen Based Porous Low-k Thin Films for Interlayer Dielectric Application in ULSI Circuits [03002-1-03002-3]
4) Absorption Coefficients of GaN / AlxGa1 – xN Core-Shell Spherical Quantum Dot [03004-1-03004-5]
5) Preparation and Characterization of CuO Nanoparticles by Novel Sol-Gel Technique [03005-1-03005-4]
6) Helium Induced Structural Disorder in Hydrogenated Nanocrystalline Silicon (nc-Si:H) Thin Films Prepared by HW-CVD Method [03006-1-03006-7]
7) Effect of Gate Length Scaling on Various Performance Parameters in DG-FinFETs: a Simulation Study [03007-1-03007-6]
8) Електрофізичні властивості та структура тонких плівок стеарату натрію (С17Н35СООNa) [03008-1-03008-5]
9) Дослідження режимів руху наночастинок в рамках стохастичної системи [03009-1-03009-6]
10) Моделювання дифузійної взаємодії в двофазних системах з використанням різних типів ефективних кінетичних коефіцієнтів [03010-1-03010-9]
11) Закономірності зародкового механізму конденсації аморфних плівок халькогенідних напівпровідників [03011-1-03011-7]
12) Час перемикання магнітного моменту в циркулярно-поляризованому полі [03012-1-03012-6]
13) Оствальдове визрівання виділень малих розмірів, розташованих на міжзеренній межі, ріст яких лімітується дифузією [03013-1-03013-9]
14) Вплив відпалу на оптичні властивості та дисперсію показника заломлення нанометрових плівок CdS [03014-1-03014-4]
15) Джерела кластерного пучка. Частина 1. Методи одержання кластерних пучків [03015-1-03015-13]
16) Вплив матеріалу підкладки на магніторезистивні та магніто-оптичні властивості плівкової системи Co/Fe [03016-1-03016-6]
17) Вплив інтеркалювання кобальтом на властивості шаруватих кристалів In2Se3 [03017-1-03017-4]
18) Моделювання процесів формування іонних пучків в зондах з розподіленими системами магнітних квадрупольних лінз [03018-1-03018-5]
19) Розрахунок густини іонного струму індуктивного високочастотного джерела іонів [03019-1-03019-5]
20) Тензорезистивні властивості тонкоплівкових систем на основі Ag і Co [03020-1-03020-4]
21) Міграція домішок в структурі графена [03021-1-03021-5]
22) Числовий метод проектування несингулярного плаща–килима невидимості довільної форми [03022-1-03022-5]
23) Декодування просторових розподілень джерел іонізуючого випромінювання в системах з кодованою апертурою [03023-1-03023-5]
24) Час релаксації в пучку частинок з анізотропним розподілом швидкостей [03024-1-03024-3]
25) Фотодетектори на основі поруватого кремнію [03025-1-03025-5]
26) Асиметричність щільності розподілу об'ємного неcкомпенсованого заряду на кордоні металургійного p-n переходу [03026-1-03026-4]
27) Розрахунок ансамблю точкових дефектів у монокристалах та плівках сульфіду цинку [03027-1-03027-6]
28) Вплив поздовжнього магнітного поля на динаміку хвиль у мультигармонічному супергетеродинному ЛВЕ доплертронного типу з гвинтовим електронним пучком [06030-1-06030-1]
