Автоматизированный комплекс исследований терморезистивных свойств наноструктурированных пленочных систем

Автор(ы) В.А. Зленко1, С.И. Проценко1 , Р. Сафарич2
Принадлежность

1 Сумский государственный университет, ул. Римского-Корсакова, 2, 40007, Сумы, Украина

2 Университет Марибора, ул. Сметанова, 17, Si-2000, Марибор, Словения

Е-mail serhiy.protsenko@elit.sumdu.edu.ua, riko.safaric@uni-mb.si
Выпуск Том 1, Год 2009, Номер 2
Даты В.А. Зленко, С.И. Проценко, Р. Сафарич, Ж. нано- электрон. физ. 1 №2, 34 (2009)
Ссылка Ж. нано- электрон. физ. 1 №2, 42 (2009)
DOI
PACS Number(s) 68.60.Dv, 73.61. – r, 07.05.Bx, 07.05.Dz
Ключевые слова Тонкая пленка, Labview 8.6, Термический коэффициент сопротивления.
Аннотация
Используя промышленные контроллеры компании Advantech ADAM-4000 и систему графического программирования LabVIEW 8.6, разработан автоматизированный комплекс для исследования терморезистивных свойств пленочных систем. Проведена апробация комплекса на примере пленочной системы Ni/Fe, полученной послойной конденсацией.

Список литературы