Фото-электрические свойства кремниевых структур с нанокомпозитным эпоксидно-полимерным слоем

Автор(ы) В.И. Шмид, С.П. Назаров, А.А. Подолян , А.Б. Надточий, О.А. Коротченков
Принадлежность

Киевский национальный университет им. Т.Г.Шевченко, пр. Акад. Глушкова, 2, 03022 Киев, Украина

Консоль отладки Joomla!

Е-mail hmdvi@gmail.com
Выпуск Том 10, Год 2018, Номер 2
Даты Получено 31.10.2017; в отредактированной форме – 28.04.2018; опубликовано online 29.04.2018
Ссылка В.И. Шмид, С.П. Назаров, А.А. Подолян, и др., Ж. нано- электрон. физ. 10 № 2, 02024 (2018)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.10(2).02024
PACS Number(s) 73.61.Ph, 73.50.Pz
Ключевые слова Кинетика SPV, Нанокомпозитные пленки, Фото-э.д.с.
Аннотация

сповільненнямВ работе методами поверхностной фото-эдс, FTIR- спектроскопии и измерением частотных зависимости диэлектрической проницаемости проведено исследование структуры типа "кремниевая подкладка / нанокомпозитный эпоксидно-полимерный слой». Обнаружено, что нанесение на кремниевую подложку нанокомпозитных пленок на основе эпоксидной смолы с порошком SiO2 приводит к уменьшению амплитуды фото-э.д.с с одновременным замедлением ее релаксации. Полученные данные объясняются в предположении, что взаимодействие карбонильных и гидроксильных групп связующим с активными центрами поверхности частиц SiO2 и установления SiO и SiN связей на поверхникремнию меняет условия рекомбинации носителей заряда и изгиб зон в приповерхностном слое Si.

Консоль отладки Joomla!