Морфология поверхности тонких пленок CdTe полученных методом открытого испарения в вакууме

Автор(ы) Я.П.Салий1, Л.И. Никируй1, Р.С. Яворський1,2, S.Adamiak2
Принадлежность

1 Прикарпатский национальный университет имени Василия Стефаника,ул. Шевченка, 57, 76000 Ивано-Франковск, Украина

2 Факультет математики и естественных наук Жешувского университета, ул. Пигония 1, 35-959 Жешув, Польша

Е-mail
Выпуск Том 9, Год 2017, Номер 5
Даты Получено 23.07.2017, опубликовано online – 16.10.2017
Ссылка Я.П.Салий, Л.И. Никируй, Р.С. Яворський, S.Adamiak, Ж. нано- электрон. физ. 9 № 5, 05016 (2017)
DOI 10.21272/jnep.9(5).05016
PACS Number(s) 88.40jm; 68.55 – a(j)
Ключевые слова Кадмий теллурид, Тонкие пленки, Метод открытого испарения, Авто-корреляционная функция, Фурье преобразования.
Аннотация Тонкие пленки CdTe различной толщины получено методом открытого испарения в вакууме на подложках из стекла и кремния (100). Исследована поверхность пленок с помощью АСМ анализа. Применяя двумерные дискретное преобразование Фурье и авто-корреляционною функцию впервые изучены закономерности структуры поверхности тонких пленок кадмий теллурида сформированных в процессе паро фазной конденсации. Выявлено периодическую сетку объектов. Период сетки связан с несогласования решеток подложки и конденсата.

Список литературы