Спектроскопические эллипсометрические исследования и температурное поведение диэлектрических функций слоистого кристалла TlInS2

Автор(ы) А.А. Гомоннай1, О. Гордан2, П.П. Гуранич1, П. Гуранич1, А.Г. Сливка1, А.В. Гомоннай1,3, Д.Р.Т. Цан2
Принадлежность

1 Ужгородский национальный университет, ул.Пидгирна, 46, 88000 Ужгород, Украина

2 Кемницкий технический университет, D-09107 Кемниц, Германия

3 Институт электронной физики НАН Украины, ул. Университетська, 21, 88017 Ужгород, Украина

Е-mail gomonnai.o@gmail.com
Выпуск Том 9, Год 2017, Номер 5
Даты Получено 30.06.2017, в отредактированной форме – 11.08.2017, опубликовано online – 16.10.2017
Ссылка А.А. Гомоннай, О. Гордан, П.П. Гуранич, и др., Ж. нано- электрон. физ. 9 № 5, 05025 (2017)
DOI 10.21272/jnep.9(5).05025
PACS Number(s) 78.67. – n, 78.90. + t
Ключевые слова Диэлектрическая функция, Оптические переходы, Структурные фазовые превращения.
Аннотация Из спектроскопических эллипсометрических исследований определена действительная и мнимая части диэлектрической функции кристалла TlInS2 в спектральном диапазоне от 1 до 5 эВ в интервале температур 133–293 К. Энергии между зонных переходов (критических точек) получено для TlInS2 из вторых производных от диэлектрических функций. Обсуждаются особенности в области структурных фазовых превращений (190–220 К) и при меньших температурах.

Список литературы