Автор(ы) | А.В. Ковальчук1 , А.Ф. Шевчук2 |
Принадлежность | 1 Киевский национальный университет технологий и дизайна, ул. Немировича-Данченко, 2, 01011 Киев, Украина 2 Винницкий национальный аграрный университет, ул. Солнечная, 3, 21008 Винница, Украина |
Е-mail | shevchuk177@gmail.com |
Выпуск | Том 9, Год 2017, Номер 4 |
Даты | Получено 05.01.2017, опубликовано online – 27.07.2017 |
Ссылка | А.В. Ковальчук, А.Ф. Шевчук, Ж. нано- электрон. физ. 9 № 4, 04015 (2017) |
DOI | 10.21272/jnep.9(4).04015 |
PACS Number(s) | 61.30.Eb, 61.30.Pq, 77.84.Nh |
Ключевые слова | Сегнетоэлектрический жидкий кристалл, Спонтанная поляризация, Наночастицы. |
Аннотация | Проанализированы существующие методы измерения величины спонтанной поляризации PS в сегнетоелектрических жидких кристаллах. Показано, что рассмотренные методы не позволяют проводить достаточной точности измерения PS вследствие имеющейся активной составляющей проводимости, которая обусловлена влиянием собственных или целенаправленно введенных примесей. Предложен модифицированный метод измерения величины PS с помощью напряжения с треугольной формой сигнала. Отличием данного метода измерения величины PS от других методов заключается в том, что анализируется не заряд в окрестности пика тока, обусловленного процессом переполяризации, а величина максимума тока. Показано, каким образом данный метод позволяет исключить из анализа токи, обусловленные наличием различного типа примесей. |
Список литературы English version of article |