Фрактальность поверхностей изломов алюминия и титана облученных интенсивным электронным пучком

Автор(ы) В.Ф. Клепиков1 , В.В. Литвиненко1 , Ю.Ф. Лонин2 , А.Г. Пономарев2 , А.A. Старцев1 , В.Т. Уваров2
Принадлежность

1 Институт электрофизики и радиационных технологий НАН Украины, ул. Чернышевского, 28, а/я 8812, 61002 Харьков, Украина

2 ННЦ Харьковский физико-технический институт НАН Украины, ул. Академическая 1, 61108 Харьков, Украина

Е-mail vvlytvynenko@ukr.net, startsev-alex@ukr.net
Выпуск Том 8, Год 2016, Номер 3
Даты Получено 04.05.2016, опубликовано online – 03.10.2016
Ссылка В.Ф. Клепиков, В.В. Литвиненко, Ю.Ф. Лонин, и др., Ж. нано- электрон. физ. 8 № 3, 03009 (2016)
DOI 10.21272/jnep.8(3).03009
PACS Number(s) 61.80.Fe, 81.40.Wx
Ключевые слова Фрактальная размерность, Электронный пучок, Алюминий, Титан (23) , Абляция.
Аннотация Облучено алюминиеву и титановую пластины сильноточным электронным пучком с энергией электронов 0.35 МэВ, длительностью импульса 5 мкс, током пучка 2 кА, плотностью энергии до 3.5 MДж/м2. Произведены поперечные изломы в зонах немодифицированного и облученного материала, которые проанализированы с помощью сканирующего электронного микроскопа JEOL JSM-840. Облучение привело к существенным изменениям параметров микроструктуры (i.e. размера зерна, характера разрушения). Фрактальную размерность изображений микроскопии изломов в серых оттенках статистически рассчитано используя арифметический, геометрический, деления шага методы с скользящим квадратным окном изменяемых размеров. Полученные распределения фрактальной размерности помогли охарактеризовать масштабный характер микроструктур, что сопровождается сдвигом механизма изломов в преимущественно хрупкий режим.

Список литературы