Контраст электронномикроскопических изображений аморфных объектов

Автор(ы) А.Я. Сватюк
Принадлежность

Ужгородский национальный университет, ул. Пидгирна, 46, 88000 Ужгород, Украина

Е-mail alsv82@gmail.com
Выпуск Том 8, Год 2016, Номер 1
Даты Получено 17.11.2015, опубликовано online – 15.03.2016
Ссылка А.Я. Сватюк, Ж. нано- электрон. физ. 8 № 1, 01005 (2016)
DOI 10.21272/jnep.8(1).01005
PACS Number(s) 61.05.J –, 61.05.jd, 68.37.Lp
Ключевые слова Электронная микроскопия, Дифракция электронов, Амплитудный контраст, Аморфные материалы, Микроструктура.
Аннотация Предложено определение контраста электронномикроскопических изображений как функции электронных потоков, рассеянных в пределах апертурной диафрагмы разными локальными участками объекта. Обосновано использование такого подхода для количественного определения величины амплитудного (абсорбционного) контраста на изображениях аморфных объектов с разными типами гетерогенности атомной и континуальной структуры. Важной особенностью определенного контраста есть линейная зависимость от разности электронных потоков, которые формируют изображение, и удобный диапазон изменений контраста от 0 до 1 относительных единиц.

Список литературы