Определение комплексного показателя преломления эталона для измерения коэффициента отражения

Автор(ы) В.И. Шкалето, Г.И. Копач, Р.В. Зайцев
Принадлежность

Национальный технический университет «Харьковский политехнический институт», ул. Фрунзе, 21, 61002 Харьков, Украина

Е-mail
Выпуск Том 6, Год 2014, Номер 2
Даты Получено 09.02.2014, опубликовано online – 20.06.2014
Ссылка В.И. Шкалето, Г.И. Копач, Р.В. Зайцев, Ж. нано- жлектрон. физ. 6 No 2, 02013 (2014)
DOI
PACS Number(s) 78.20.Ci, 42.79.Fm
Ключевые слова Комплексный показатель преломления, Спектрофотометр (2) , Обратная задача оптики.
Аннотация В работе предложены методы определения комплексного показателя преломления непрозрачных объектов по результатам измерения коэффициентов отражения при двух различных углах падения. Приведены оптические схемы приставок к спектрофотометру СФ-46 для измерения коэффициента отражения абсолютным и относительным методами. Обоснован выбор материала эталона при измерениях коэффициента отражения относительным методом. Дан алгоритм программы «Back Task Optic» для определения комплексного показателя преломления по результатам оптических измерений. Представлены результаты измерений коэффициента пропускания приставок для определения параметров зеркал эталона и их показателя преломления.

Список литературы

English version of article