Расчет реальных размеров наночастиц по АСМ изображениям и моделирование их магнитооптических свойств

Автор(ы) В.А. Зленко , М.Г. Демиденко , С.И. Проценко
Принадлежность

Сумский государственный университет, ул. Римского-Корсакова, 2, 40007 Сумы, Украина

Е-mail
Выпуск Том 5, Год 2013, Номер 3
Даты Получено 10.09.2013, опубликовано online 17.10.2013
Ссылка В.А. Зленко, М.Г. Демиденко, С.И. Проценко, Ж. нано- электрон. физ. 5 № 3, 03055 (2013)
DOI
PACS Number(s) 61.46.Df, 68.37.Lp, 73.61.At, 81.15.Ef
Ключевые слова Атомно-силовая микроскопия, Массив наночастиц, МОКЕ (2) .
Аннотация В работе описаны геометрические модели и приведены результаты расчета реальных размеров НЧ Ni и Co на аморфных Si3N4 / Si подложках, полученых методом термодиспергирования тонких металлических пленок, по данным атомно-силовой микроскопии. Результаты расчетов были использованы при моделировании магнито-оптических свойств массивов НЧ. Показано, что обработанные по описанным в работе соотношениям модели массивов НЧ позволяют получить хорошее совпадение между расчетными и полученными экспериментально методом МОКЕ данными.

Список литературы