Модифікований метод вимірювання величини спонтанної поляризації сегнетоелектричних рідких кристалів

Автор(и) О.В. Ковальчук1 , О.Ф. Шевчук2
Приналежність

1 Київський національний університет технологій та дизайну, вул. Немировича-Данченка, 2, 01011 Київ, Україна

2 Вінницький національний аграрний університет, вул. Сонячна, 3, 21008 Вінниця, Україна

Е-mail shevchuk177@gmail.com
Випуск Том 9, Рік 2017, Номер 4
Дати Одержано 05.01.2017, опубліковано online - 27.07.2017
Посилання О.В. Ковальчук, О.Ф. Шевчук, Ж. нано- електрон. фіз. 9 № 4, 04015 (2017)
DOI 10.21272/jnep.9(4).04015
PACS Number(s) 61.30.Eb, 61.30.Pq, 77.84.Nh
Ключові слова Сегнетоелектричний рідкий кристал (3) , Спонтанна поляризація, Наночастинки (22) .
Анотація Проаналізовано існуючі методи вимірювання величини спонтанної поляризації PS в сегнетоелектричних рідких кристалах. Показано, що наведені методи не дозволяють проводити достатньої точності вимірювання PS внаслідок наявної активної складової провідності яка обумовлена впливом власних або цілеспрямовано введених домішок. Запропоновано модифікований метод вимірювання величини PS за допомогою напруги з трикутною формою сигналу. Відмінністю даного метода вимірювання величини PS від інших методів полягає в тому, що аналізується не заряд в околі піку струму, зумовленого процесом переполяризації, а величина максимуму струму. Показано, яким чином даний метод дозволяє виключити з аналізу струми, що зумовлені наявністю різного типу домішок.

Перелік посилань

Переклад англійською